我們在ADC轉(zhuǎn)換過程中經(jīng)常討論SNR劣化。對于ADC來說唯一可以輕松避免的噪聲源是由于開關(guān)電源關(guān)閉時間不足而引入的誤差，或由于ADC阻抗路徑的采樣時間過高而引入的誤差。基本情況下，Tsampling或Tswitch不符合上述標(biāo)準(zhǔn)。

信道可以兩種方式進(jìn)行分類：第一種方法是根據(jù)信道的ENOB(有效位數(shù))規(guī)格進(jìn)行分類，即精密和非精密信道，第二種方法是根據(jù)模擬輸入的來源劃分，是來自于SoC外部還是內(nèi)部，即外部信道和內(nèi)部信道。

內(nèi)部信道：

需要知道一個IP輸出到ADC輸入的路徑電阻的精確估算值，才能了解ADC能夠提供的最小采樣時間。如果采樣時間低于該值，那么采樣電容器充電會不足，采樣值也不正確。然后，這個不正確的值將被量化，從而導(dǎo)致SNR劣化。

外部信道

對于外部信道來說最常見的問題是，在兩個不同的ADC中同時轉(zhuǎn)換來自于一個焊盤的相同的模擬數(shù)據(jù)。造成這種情況的原因是，這兩個ADC的采樣電容器之間存在電荷共享。發(fā)生同時采樣時，一個ADC的采樣電容器上的保持采樣電壓會受到另一個ADC采樣相位的干擾。這是因?yàn)閼?yīng)該為一個電容器充電的模擬電壓遇到兩個需要充電的電容器。由于電荷共享導(dǎo)致采樣電容器采樣的數(shù)值小于輸入，從而導(dǎo)致ADC轉(zhuǎn)換了錯誤的值。

保持軟件限制以確保不會同時對共享的信道進(jìn)行采樣，從而解決這個問題。另一種解決方案是，如果發(fā)生了同時采樣，則為第一個ADC提供較大的采樣時間。這將允許第一個ADC重新設(shè)置它需要轉(zhuǎn)換的電壓，從而減少轉(zhuǎn)換錯誤值的機(jī)會。