標簽：cmos
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CMOS電路設(shè)計中的ESD保護
發(fā)布時間：2021年11月23日，查看次數(shù)：3001、引言 靜電放電（ESD - ElectroStatic Discharge）會給電子器件帶來破壞性的后果，是造成集成電路失效的主要原因之一。隨著集成電路工藝不斷發(fā)展，CMOS電路的尺寸不斷縮小，管子的柵氧厚度越來越薄，芯片的面積規(guī)模越來越大，MOS管能承受的電流和電壓也越來越小，而外圍的使用環(huán)境并未改變，因此要進一步優(yōu)化電路的抗ESD性能。 如何使全 -
為什么我的處理器漏電？
發(fā)布時間：2018年03月14日，查看次數(shù)：718答：在我的上一篇文章中，我談到了一個功耗過小的器件——是的，的確有這種情況——帶來麻煩的事情。但這種情況很罕見。我處理的更常見情況是客戶抱怨器件功耗大于數(shù)據(jù)手冊所宣稱的值。記得有一次，客戶拿著處理器板走進我的辦公室，說它的功耗太大，耗盡了電池電量。由于我們曾驕傲地宣稱該處理器屬于超低功耗器件，因此舉證責任在我們這邊。我準備按照慣例，一個一個地切斷電路板上不同器件的電源，直至找到真正肇事者，這時我想起不久之前的一個類似案例，那個案例的“元兇”是一個…
