標(biāo)簽：電池片
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光伏電源組件的隱裂、識別及預(yù)防
發(fā)布時間：2017年06月27日，查看次數(shù)：919隱裂、熱斑、PID效應(yīng)，是影響晶硅光伏組件性能的三個重要因素。今天就和大家一起探討一下電池片隱裂的原因、如何識別及預(yù)防方法。1. 什么是“隱裂”隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺陷，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細(xì)微破裂（micro-crack）。晶硅組件由于其自身晶體結(jié)構(gòu)的特性，十分容易發(fā)生破裂。在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產(chǎn)生的根本原因，可歸納為硅片上產(chǎn)生了機(jī)械應(yīng)力或熱應(yīng)力。現(xiàn)在為了降低成本，晶硅電池片向越來越薄的方向…
