發(fā)布時間:2020年08月14日,查看次數(shù):428
基于掃描路徑法的可測性設(shè)計技術(shù)是可測性設(shè)計(DFT)技術(shù)的一個重要的方法,這種方法能夠從芯片外部設(shè)定電路中各個觸發(fā)器的狀態(tài),并通過簡單的掃描鏈的設(shè)計,掃描觀測觸發(fā)器是否工作在正常狀態(tài),以此來檢測電路的正確性。但隨著數(shù)字電路朝著超大規(guī)模的方向發(fā)展,設(shè)計電路中使用的觸發(fā)器的數(shù)目也日趨龐大,怎樣采用合適的可測性設(shè)計策略,檢測到更多的觸發(fā)器,成為基于掃描路徑法的一個關(guān)鍵問題。本文采用基于掃描路徑法的可測性設(shè)計技術(shù),對一款約750萬門級雷達芯片的實際電路進行可測…