標簽：觸發(fā)器
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采用時鐘復用技術(shù)提高可測性設(shè)計的故障覆蓋率
發(fā)布時間：2020年08月14日，查看次數(shù)：431基于掃描路徑法的可測性設(shè)計技術(shù)是可測性設(shè)計（DFT）技術(shù)的一個重要的方法，這種方法能夠從芯片外部設(shè)定電路中各個觸發(fā)器的狀態(tài)，并通過簡單的掃描鏈的設(shè)計，掃描觀測觸發(fā)器是否工作在正常狀態(tài)，以此來檢測電路的正確性。但隨著數(shù)字電路朝著超大規(guī)模的方向發(fā)展，設(shè)計電路中使用的觸發(fā)器的數(shù)目也日趨龐大，怎樣采用合適的可測性設(shè)計策略，檢測到更多的觸發(fā)器，成為基于掃描路徑法的一個關(guān)鍵問題。本文采用基于掃描路徑法的可測性設(shè)計技術(shù)，對一款約750萬門級雷達芯片的實際電路進行可測…
