測(cè)試技術(shù)可以?xún)?yōu)化功率半導(dǎo)體和轉(zhuǎn)換器行業(yè)的產(chǎn)品質(zhì)量，而產(chǎn)品質(zhì)量是競(jìng)爭(zhēng)力的主要因素。生產(chǎn)各個(gè)階段都需要進(jìn)行測(cè)試以保證質(zhì)量。本文深入探討了如何經(jīng)濟(jì)、可靠地測(cè)試功率半導(dǎo)體。此外，當(dāng)指定數(shù)據(jù)的通用信息轉(zhuǎn)移到特定應(yīng)用時(shí)，測(cè)試和表征技術(shù)的知識(shí)也有助于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中驗(yàn)證新布局。因此，本文還旨在促進(jìn)功率半導(dǎo)體制造商和用戶(hù)之間的理解，旨在提供并確保適合應(yīng)用的表征。

近期應(yīng)用的表征

在轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)階段需要考慮與功率半導(dǎo)體相關(guān)的兩個(gè)主要技術(shù)問(wèn)題：正常條件下的可靠運(yùn)行和故障條件下一定程度的本質(zhì)安全性，兩者都必須得到表征。

一般適用的表征數(shù)據(jù)

已經(jīng)導(dǎo)出了具有可比特性的系統(tǒng)，以獲得功率半導(dǎo)體的應(yīng)用特定數(shù)據(jù)的必要概括。簡(jiǎn)要列舉如下；使用的示例旨在幫助理解一般描述：

常量普遍有效

函數(shù)，通常由多個(gè)變量組成，描述特定操作點(diǎn)的行為

典型操作點(diǎn)序列的額定值

測(cè)量方法和測(cè)試儀

靜態(tài)測(cè)試

如前所述，靜態(tài)測(cè)試通常在高電壓和低電流下執(zhí)行，反之亦然，這意味著能量耗散非常小。多種自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備可用于此目的。短測(cè)試時(shí)間和高精度這兩個(gè)相互矛盾的目標(biāo)之間的優(yōu)化是一項(xiàng)工程任務(wù)。

動(dòng)態(tài)測(cè)試

動(dòng)態(tài)測(cè)試在同一測(cè)試序列中分別包含高電壓和低電壓和電流。由于以下幾個(gè)原因，這使得測(cè)量變得困難： 分辨率由高振幅決定，因此限制了低值的精度。這是確定開(kāi)關(guān)能量的一個(gè)嚴(yán)重問(wèn)題 - 標(biāo)準(zhǔn)化積分間隔分別由滿(mǎn)量程和 2% 電壓或電流限制定義。此外，測(cè)試設(shè)備中存儲(chǔ)的能量要高得多。在實(shí)驗(yàn)室中執(zhí)行一些旨在表征數(shù)據(jù)表的非重復(fù)測(cè)試不會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題。然而，如果在生產(chǎn)中引入動(dòng)態(tài)測(cè)試作為質(zhì)量控制的一種手段，則對(duì)操作員和設(shè)備的保護(hù)必須適應(yīng)大量測(cè)試的工件。