模塊電源的高溫老化是指仿真產(chǎn)品的高溫使用環(huán)境，老化測(cè)試時(shí)間一般要求為12-48小時(shí)。高溫老化流程有倆種，一種是設(shè)置在高溫環(huán)境中，通電老化。一種是在高溫環(huán)境下，用更惡劣的環(huán)境條件沖擊模塊電源，模塊電源的老化方式主要有常溫帶負(fù)載老化和高溫通電老化測(cè)試倆種，常用的是高溫老化。通過高溫老化可以使產(chǎn)品元件的缺陷或質(zhì)量不良暴露出來，從而提高了產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。

模塊電源老化測(cè)試的作用：

一 可以檢查出電源在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的問題。

二 模塊能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，提高了產(chǎn)品的可靠性。

三 可以監(jiān)控出模塊性能隨溫度變化而產(chǎn)生的改變。

四 使用電腦進(jìn)行監(jiān)控，可以看出電源在工作狀態(tài)下的數(shù)據(jù)，反映出了電源模塊的使用情況。